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24
2026
-
08
ISO 10110/14577/21920 标准解读,采用白...
在光学、半导体与精密制造领域,ISO 10110、ISO 14577、ISO 21920三项国际标准,分别对应光学元件图纸标注、仪器化压痕检测、二维轮廓表面纹理管...
ISO 10110/14577/21920 标准解读,采用白光干涉仪测量方案
22
2026
-
08
铜箔粗糙度波动改变 PCB 特性阻抗采用激光显微镜与白光干涉...
高频印制电路板(High-Frequency PCB)高速信号传输受趋肤效应(Skin Effect)主导,信号电流仅沿铜箔表层微区传导。铜箔粗糙度波动(Fluc...
铜箔粗糙度波动改变 PCB 特性阻抗采用激光显微镜与白光干涉仪对比检测
22
2026
-
08
批量生产产生平面度一致性偏差(Consistency Dev...
精密光学镜筒(Optical Lens Barrel)量产加工过程中,定位面平面度(Flatness)一致性偏差是影响装配精度与成品成像质量的关键工艺异常。量产阶...
批量生产产生平面度一致性偏差(Consistency Deviation),光学轮廓仪整治镜筒量产加工工艺异常
22
2026
-
08
ISO 12062/16610 标准应用(Applicati...
在产品几何技术规范(GPS,Geometrical Product Specifications)体系中,表面粗糙度检测的核心环节为表面纹理滤波与仪器计量性能评价...
ISO 12062/16610 标准应用(Application of ISO 12062/16610 Standard),采用白光干涉仪实现粗糙度检测
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